DI001N65PTK-AQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI001N65PTK-AQ MOSFET, PowerQFN 3x3, N, 650V, 1A, 1.6Ω, 150°C, AEC-Q101
Mindestbestellmenge	5.000
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant
REACH	not declarable
Bleifrei	Ja
Halogenfrei	Ja

Artikelnummer	DI001N65PTK-AQ

Typ	SMD
Gehäuse	PowerQFN 3x3
Qualification	AEC-Q101
Config	Single
Life Cycle	engineering sample
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Ja
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	650 V

Drainstrom 25°C	ID	1 A
On-Widerstand 1	RDSon1	1.6 Ω
	@ ID	1 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	0.63 A
On-Widerstand 2	RDSon2	1.4 Ω
	@ ID	1 A
	@ VGS	10 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	32.2 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Ja
Drain-Spitzenstrom	IDM	4 A
	@ tp	null µs
Schwellspannung	VGSth min	1.2 V
	VGSth max	2.5 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	9 ns
Anstiegszeit	tr	11 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	19 ns
Abfallzeit	tf	86 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	5.8 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	2 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	19.3 mJ
Eingangskapazität	Ciss	209 pF
Ausgangskapazität	Coss	12 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	5 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	498 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.1 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	4 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	50 K/W
	Location	ambient
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	1 µA
	@ VGS	16 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	520 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	20 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	2 V
Übertragungssteilheit	gfs	2.2 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	5 Ω