DID3A2N65
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DID3A2N65 MOSFET, IPAK, N, 650V, 3.2A, 2.6Ω, 150°C
Mindestbestellmenge	6.000
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant with exemption 7(a)-I
REACH	declarable
Bleifrei	Nein
Halogenfrei	Nein

Artikelnummer	DID3A2N65

Typ	SMD
Gehäuse	TO-251/I-PAK
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	active
ESD sensitive	Nein
MSL	1

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	650 V

Drainstrom 25°C	ID	3.2 A
On-Widerstand 1	RDSon1	2.6 Ω
	@ ID	2 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	2 A
On-Widerstand 2	RDSon2	null Ω
	@ ID	null A
	@ VGS	null V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	54 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Ja
Drain-Spitzenstrom	IDM	16 A
	@ tp	10000 µs
Schwellspannung	VGSth min	2 V
	VGSth max	4 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	45 ns
Anstiegszeit	tr	100 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	200 ns
Abfallzeit	tf	130 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	25 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	20 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	180 mJ
Eingangskapazität	Ciss	581 pF
Ausgangskapazität	Coss	63 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	11 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	370 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	2 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	0.51 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	null K/W
	Location	null
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	30 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	650 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	30 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	2.7 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	1.9 Ω