DI300N15TL-Q
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI300N15TL-Q
MOSFET, TOLL, N, 150V, 300A, 3.9mΩ, 175°C
Mindestbestellmenge 2.000
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption
REACH not declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Ja

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI300N15TL-Q
DI300N15TL-Q Single
Typ SMD
Gehäuse HSOF-8/TOLL
Qualification AEC-Q compliant
Config Single
Life Cycle engineering sample
ESD sensitive Nein
MSL 3
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 150 V
Drainstrom 25°C ID 300.000 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.0039
@ ID 20.000 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID 0.000 A
On-Widerstand 2 RDSon2
@ ID
@ VGS
Sperrschicht Temperatur Tjmin
Tjmax 175 °C
Verlustleistung Ptot 600.000 W
@ TLoc 25 °C
Location Junction
Avalanche Ja
Drain-Spitzenstrom IDM 1060.000 A
@ tp
Schwellspannung VGSth min 2.5 V
VGSth max 4.5 V
Einschaltverzögerung tD(on) 48 ns
Anstiegszeit tr 92 ns
Ausschaltverzögerung tD(off) 93 ns
Abfallzeit tf 59 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) 89.0 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung Qgd 17 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas 900.0 mJ
Eingangskapazität Ciss 8720 pF
Ausgangskapazität Coss 4170 pF
Rückwirkungskapazität Crss 207 pF
Sperrverzugsladung Qrr 279 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Nein
Nettogewicht mnet
Kennzeichnung Marking
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH
Location
UL anerkannt UL-Recognition
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH
Location
Lagerungstemperatur Tsmin
Tsmax
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly
Gate-Source Leckstrom IGSS
@ VGS
Drain-Source Leckstrom IDSS
@ VDS
Gate-Source-Spannung DC VGSS
Gate-Source-Spannung ESD VGSS
Übertragungssteilheit gfs
Intrinsic gate resistance RGi

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