DI014N03SQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI014N03SQ MOSFET, SO-8, N, 30V, 14A, 8mΩ, 150°C
Mindestbestellmenge	4.000
Bestand	60.000
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant
REACH	not declarable
Bleifrei	Ja
Halogenfrei	Ja

Artikelnummer	DI014N03SQ

Typ	SMD
Gehäuse	SO-8
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	active
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	30 V

Drainstrom 25°C	ID	14 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.008 Ω
	@ ID	14 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	null A
On-Widerstand 2	RDSon2	0.011 Ω
	@ ID	11 A
	@ VGS	4.5 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	2.8 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	ambient
Avalanche	Ja
Drain-Spitzenstrom	IDM	64 A
	@ tp	null µs
Schwellspannung	VGSth min	1 V
	VGSth max	2 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	n ns
Anstiegszeit	tr	5 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	23 ns
Abfallzeit	tf	7 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	25 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)
Gate-Drain Ladung	Qgd	4 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	45 mJ
Eingangskapazität	Ciss	1360 pF
Ausgangskapazität	Coss	175 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	130 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	3 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.1 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	44.6 K/W
	Location	ambient
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	null K/W
	Location	null
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	20 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	30 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	20 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	28 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	2.1 Ω