DI013N70D1
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI013N70D1 MOSFET, DPAK, N, 700V, 13A, 0.36Ω, 150°C
Mindestbestellmenge	2.500
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant with exemption 7(a)-I
REACH	declarable
Bleifrei	Nein
Halogenfrei	Nein

Artikelnummer	DI013N70D1

Typ	SMD
Gehäuse	TO-252AA/D-PAK
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	engineering sample
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	700 V

Drainstrom 25°C	ID	13 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.36 Ω
	@ ID	3 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	8 A
On-Widerstand 2	RDSon2	null Ω
	@ ID	null A
	@ VGS	nul V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	128 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Nein
Drain-Spitzenstrom	IDM	52 A
	@ tp	null µs
Schwellspannung	VGSth min	3 V
	VGSth max	4 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	20 ns
Anstiegszeit	tr	26 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	105 ns
Abfallzeit	tf	32 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	25.9 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	14 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	93 mJ
Eingangskapazität	Ciss	742 pF
Ausgangskapazität	Coss	35 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	1 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	2050 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.32 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	0.98 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	100 K/W
	Location	ambient
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	30 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	700 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	30 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	null mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	9.3 Ω