DI012P03SQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI012P03SQ MOSFET, SO-8, P, -30V, -12A, 13.5mΩ, 150°C
Mindestbestellmenge	4.000
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant
REACH	not declarable
Bleifrei	Ja
Halogenfrei	Ja

Artikelnummer	DI012P03SQ

Typ	SMD
Gehäuse	SO-8
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	engineering sample
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	P
Drain-Source-Spannung	VDS	-30 V

Drainstrom 25°C	ID	-12.000 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.01350 Ω
	@ ID	-10.000 A
	@ VGS	-10 V
Drainstrom 100°C	ID	-10.500 A
On-Widerstand 2	RDSon2	0.01600 Ω
	@ ID	-7.000 A
	@ VGS	-4.5 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	5.600 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Terminal
Avalanche	Nein
Drain-Spitzenstrom	IDM	-40.000 A
	@ tp	100 µs
Schwellspannung	VGSth min	-1.0 V
	VGSth max	-2.5 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	10 ns
Anstiegszeit	tr	11 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	30 ns
Abfallzeit	tf	7 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	62.0 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	31.0 nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	10 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	20.0 mJ
Eingangskapazität	Ciss	1930 pF
Ausgangskapazität	Coss	360 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	312 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	40.0 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.1 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	50 K/W
	Location	ambient
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	null K/W
	Location	null
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	12 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	16 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	20 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	23 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	2.5 Ω