DI011N06PQK
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI011N06PQK MOSFET, PowerQFN 5x6, N, 60V, 11A,
Mindestbestellmenge	5.000
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant with exemption 7(a)-I
REACH	declarable
Bleifrei	Nein
Halogenfrei	Nein

Artikelnummer	DI011N06PQK

Typ	SMD
Gehäuse	PowerQFN 5x6
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	engineering sample
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Ja
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	60 V

Drainstrom 25°C	ID	11 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.01 Ω
	@ ID	11 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	7 A
On-Widerstand 2	RDSon2	0.019 Ω
	@ ID	9 A
	@ VGS	4.5 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	34 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Ja
Drain-Spitzenstrom	IDM	44 A
	@ tp	10000 µs
Schwellspannung	VGSth min	1 V
	VGSth max	1.8 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	tbd ns
Anstiegszeit	tr	0 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	tbd ns
Abfallzeit	tf	0 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	tbd nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	tbd nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	tbd nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	tbd mJ
Eingangskapazität	Ciss	tbd pF
Ausgangskapazität	Coss	tbd pF
Rückwirkungskapazität	Crss	tbd pF
Sperrverzugsladung	Qrr	tbd nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.1 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	3.6 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	46 K/W
	Location	ambient
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	10 µA
	@ VGS	20 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	60 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	20 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	2000 V
Übertragungssteilheit	gfs	tbd mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	tbd Ω