MMFTN3422K-AQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	MMFTN3422K-AQ Gate protected MOSFET, SOT-23, N, 30V, 4.2A, 42mΩ, 150°C, AEC-Q101
Mindestbestellmenge	3.000
Bestand	48.000
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant
REACH	not declarable
Bleifrei	Ja
Halogenfrei	Ja

Artikelnummer	MMFTN3422K-AQ

Typ	SMD
Gehäuse	SOT-23
Qualification	AEC-Q101
Config	Single Protected
Life Cycle	active
ESD sensitive	Nein
MSL	1

ESD Schutz	ESD protected	Ja
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	30 V

Drainstrom 25°C	ID	4.2 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.042 Ω
	@ ID	4.2 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	null A
On-Widerstand 2	RDSon2	0.048 Ω
	@ ID	3.5 A
	@ VGS	4.5 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	1.25 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	ambient
Avalanche	Nein
Drain-Spitzenstrom	IDM	20 A
	@ tp	null µs
Schwellspannung	VGSth min	0.4 V
	VGSth max	1.2 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	1138 ns
Anstiegszeit	tr	68 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	892 ns
Abfallzeit	tf	99 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	14.5 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	3 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	null mJ
Eingangskapazität	Ciss	387 pF
Ausgangskapazität	Coss	37 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	10 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	3 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.01 g
Kennzeichnung	Marking	DU
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	100 K/W
	Location	ambient
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	null K/W
	Location	null
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	10 µA
	@ VGS	10 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	30 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	12 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	500 V
Übertragungssteilheit	gfs	12 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	1.5 Ω