DIW003N150
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DIW003N150 MOSFET, TO-247-3L, N, 1500V, 4A, 6.5Ω, 150°C
Mindestbestellmenge	450
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant with exemption 7(a)-I
REACH	declarable
Bleifrei	Nein
Halogenfrei	Nein

Artikelnummer	DIW003N150

Typ	Wire-lead
Gehäuse	TO-247-3L
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	engineering sample
ESD sensitive	Nein
MSL	n/a

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	N
Drain-Source-Spannung	VDS	1500 V

Drainstrom 25°C	ID	4 A
On-Widerstand 1	RDSon1	6.5 Ω
	@ ID	1 A
	@ VGS	10 V
Drainstrom 100°C	ID	2.8 A
On-Widerstand 2	RDSon2	null Ω
	@ ID	null A
	@ VGS	null V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	175 °C
Verlustleistung	Ptot	75 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Nein
Drain-Spitzenstrom	IDM	16 A
	@ tp	10000 µs
Schwellspannung	VGSth min	3 V
	VGSth max	5 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	25 ns
Anstiegszeit	tr	51 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	86 ns
Abfallzeit	tf	46 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	31 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	12 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	107 mJ
Eingangskapazität	Ciss	1700 pF
Ausgangskapazität	Coss	94 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	0.2 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	4 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	6 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	0.8 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	35 K/W
	Location	ambient
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	175 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	30 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	1500 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	30 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	1700 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	12 Ω