DI212N14TL
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI212N14TL
MOSFET, TOLL, N, 140V, 212A
Mindestbestellmenge 2.000
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant with exemption
REACH declarable
Bleifrei Nein
Halogenfrei Nein

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI212N14TL
DI212N14TL Single
Typ SMD
Gehäuse HSOF-8/TOLL
Qualification Industrial Grade
Config Single
Life Cycle engineering sample
ESD sensitive Nein
MSL 1
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 140 V
Drainstrom 25°C ID 212 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.0035
@ ID 50 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID 149 A
On-Widerstand 2 RDSon2 null
@ ID null A
@ VGS null V
Sperrschicht Temperatur Tjmin -55 °C
Tjmax 175 °C
Verlustleistung Ptot 277 W
@ TLoc 25 °C
Location Contact
Avalanche Nein
Drain-Spitzenstrom IDM 848 A
@ tp null µs
Schwellspannung VGSth min 2 V
VGSth max 4 V
Einschaltverzögerung tD(on) TBA ns
Anstiegszeit tr TBA ns
Ausschaltverzögerung tD(off) TBA ns
Abfallzeit tf TBA ns
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) TBA nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V) TBA nC
Gate-Drain Ladung Qgd 57 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas TBA mJ
Eingangskapazität Ciss TBA pF
Ausgangskapazität Coss TBA pF
Rückwirkungskapazität Crss TBA pF
Sperrverzugsladung Qrr TBA nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Ja
Nettogewicht mnet 2 g
Kennzeichnung Marking Type
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH 0.54 K/W
Location case
UL anerkannt UL-Recognition null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH 35 K/W
Location ambient
Lagerungstemperatur Tsmin -55 °C
Tsmax 175 °C
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly 260°/10s
Gate-Source Leckstrom IGSS 0.1 µA
@ VGS 20 V
Drain-Source Leckstrom IDSS 1 µA
@ VDS 120 V
Gate-Source-Spannung DC VGSS 20 V
Gate-Source-Spannung ESD VGSS null V
Übertragungssteilheit gfs TBA mA/V
Intrinsic gate resistance RGi TBA

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