DI067P06PQ
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie	MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren) (Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung	DI067P06PQ MOSFET, PowerQFN 5x6, P, -60V, -67A, 13.5mΩ, 150°C
Mindestbestellmenge	5.000
Bestand	0
Zollnummer	85412900
RoHS	compliant with exemption
REACH	not declarable
Bleifrei	Nein
Halogenfrei	Ja

Artikelnummer	DI067P06PQ

Typ	SMD
Gehäuse	PowerQFN 5x6
Qualification	Industrial Grade
Config	Single
Life Cycle	active
ESD sensitive	Nein
MSL	3

ESD Schutz	ESD protected	Nein
Polarität	pol	P
Drain-Source-Spannung	VDS	-60 V

Drainstrom 25°C	ID	-67 A
On-Widerstand 1	RDSon1	0.0135 Ω
	@ ID	-20 A
	@ VGS	-10 V
Drainstrom 100°C	ID	-42 A
On-Widerstand 2	RDSon2	0.017 Ω
	@ ID	-20 A
	@ VGS	-4.5 V
Sperrschicht Temperatur	Tjmin	-55 °C
	Tjmax	150 °C
Verlustleistung	Ptot	110 W
	@ TLoc	25 °C
	Location	Contact
Avalanche	Ja
Drain-Spitzenstrom	IDM	280 A
	@ tp	10000 µs
Schwellspannung	VGSth min	-1.3 V
	VGSth max	-2.6 V
Einschaltverzögerung	tD(on)	17 ns
Anstiegszeit	tr	19 ns
Ausschaltverzögerung	tD(off)	56 ns
Abfallzeit	tf	35 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V)	Qg (10V)	62.1 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V)	Qg (4.5V)	null nC
Gate-Drain Ladung	Qgd	17 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie	Eas	560 mJ
Eingangskapazität	Ciss	5505 pF
Ausgangskapazität	Coss	325 pF
Rückwirkungskapazität	Crss	275 pF
Sperrverzugsladung	Qrr	71 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse	UL94-V0	Ja
Nettogewicht	mnet	0.1 g
Kennzeichnung	Marking	Type
Wärmewiderst. Sperrschicht	RTH	1.14 K/W
	Location	case
UL anerkannt	UL-Recognition	null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b)	RTH	null K/W
	Location	null
Lagerungstemperatur	Tsmin	-55 °C
	Tsmax	150 °C
Löt- und Einbaubedingungen	Solder & Assembly	260°/10s
Gate-Source Leckstrom	IGSS	0.1 µA
	@ VGS	20 V
Drain-Source Leckstrom	IDSS	1 µA
	@ VDS	60 V
Gate-Source-Spannung DC	VGSS	20 V
Gate-Source-Spannung ESD	VGSS	null V
Übertragungssteilheit	gfs	25 mA/V
Intrinsic gate resistance	RGi	null Ω