DI050N04PT
MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)

Produktinformationen

Produktfamilie MOSFETs (Feld-Effekt Transistoren)
(Leistungs-)Schalter, Signalverarbeitung, Verpolschutz
Artikelbezeichnung DI050N04PT
MOSFET, PowerQFN 3x3, N, 40V, 50A, 5.7mΩ, 150°C
Mindestbestellmenge 5.000
Bestand 0
Zollnummer 85412900
RoHS compliant
REACH not declarable
Bleifrei Ja
Halogenfrei Ja

Verfügbarkeit bei Distributoren

Technische Daten

Artikelnummer DI050N04PT
DI050N04PT Single
Typ SMD
Gehäuse PowerQFN 3x3
Qualification Industrial Grade
Config Single
Life Cycle active
ESD sensitive Nein
MSL 3
 
ESD Schutz ESD protected Nein
Polarität pol N
Drain-Source-Spannung VDS 40 V
Drainstrom 25°C ID 50 A
On-Widerstand 1 RDSon1 0.0057
@ ID 10 A
@ VGS 10 V
Drainstrom 100°C ID 32 A
On-Widerstand 2 RDSon2 0.007
@ ID 5 A
@ VGS 4.5 V
Sperrschicht Temperatur Tjmin -55 °C
Tjmax 150 °C
Verlustleistung Ptot 25 W
@ TLoc 25 °C
Location Contact
Avalanche Ja
Drain-Spitzenstrom IDM 220 A
@ tp 10000 µs
Schwellspannung VGSth min 1 V
VGSth max 2.5 V
Einschaltverzögerung tD(on) 22 ns
Anstiegszeit tr 26 ns
Ausschaltverzögerung tD(off) 21 ns
Abfallzeit tf 3 ns
Gesamte Gate-Ladung (10V) Qg (10V) 70 nC
Gesamte Gate-Ladung (4.5V) Qg (4.5V) null nC
Gate-Drain Ladung Qgd 13 nC
Einzelpuls Avalanche-Energie Eas 103 mJ
Eingangskapazität Ciss 3255 pF
Ausgangskapazität Coss 260 pF
Rückwirkungskapazität Crss 195 pF
Sperrverzugsladung Qrr 9 nC
Flammbarkeitsklasse Gehäuse UL94-V0 Ja
Nettogewicht mnet 0.1 g
Kennzeichnung Marking Type
Wärmewiderst. Sperrschicht RTH 5 K/W
Location case
UL anerkannt UL-Recognition null
Wärmewiderst. Sperrschicht (b) RTH 58 K/W
Location ambient
Lagerungstemperatur Tsmin -55 °C
Tsmax 175 °C
Löt- und Einbaubedingungen Solder & Assembly 260°/10s
Gate-Source Leckstrom IGSS 0.1 µA
@ VGS 20 V
Drain-Source Leckstrom IDSS 1 µA
@ VDS 0.8 V
Gate-Source-Spannung DC VGSS 20 V
Gate-Source-Spannung ESD VGSS null V
Übertragungssteilheit gfs 18.8 mA/V
Intrinsic gate resistance RGi 0.5

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